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分类: 互联网数据 标签: 晶圆检测

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  • 晶圆缺陷检测数据集WaferBinMapsDataset-matjlatka

    2025年4月24日 30 210 111

    晶圆缺陷检测数据集WaferBinMapsDataset-matjlatka 数据来源：互联网公开数据 标签：晶圆检测，数据集，图像分析，半导体制造，缺陷分类，机器学习，视觉识别，工业应用 数据概述： 该数据集包含来自半导体制造过程中的晶圆缺陷检测数据，记录了晶圆的缺陷分布情况。主要特征如下： 时间跨度：数据记录的时间范围从2007年到2017年。...
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