-
半导体晶圆图像缺陷分类数据集SemiconductorWaferImageDefectClassificationDataset-shaurya21jain
2025年4月29日 30 76 58
半导体晶圆图像缺陷分类数据集SemiconductorWaferImageDefectClassificationDataset-shaurya21jain 数据来源：互联网公开数据 标签：晶圆缺陷, 图像分类, 半导体, 质量控制, 机器学习, 深度学习, 计算机视觉, 工业制造 数据概述：...
2025年4月29日 30 76 58
