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数据250nm锯齿形硅基底高波纹薄膜磁化反转机制原子力显微镜数据集
2025年12月4日 30 116 19
数据集概述 该数据集包含250nm横向周期、约160nm波纹振幅的锯齿形硅基底（ST Si）的原子力显微镜（AFM）表征数据，涵盖原始与处理后的图像及轮廓数据，用于研究高波纹薄膜的磁化反转机制。 文件详解 该数据集包含4个文件，具体说明如下： - 原始数据文件: - VGroove_S02_RDG_00057_20220621_154802.gwy:...
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