找到10个数据集

标签: 室温

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  • GaAs_AlGaAs结构室温下极化激元强耦合数据集

    2025年12月23日 30 53 23

    数据集概述 该数据集包含GaAs/AlGaAs结构在室温下极化激元强耦合研究项目的所有原始数据,未区分训练/测试、数据/标签或原始/处理数据,以压缩包形式存储。 文件详解 文件名称:data.zip 文件格式:ZIP压缩包 内容说明:包含项目所有原始数据集,具体内部文件结构需解压后查看,无可用预览信息 适用场景...
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  • 环境条件对摩擦堆焊影响数据集

    2025年12月22日 30 83 55

    数据集概述 本数据集为《环境条件对摩擦堆焊影响》研究的配套数据,包含不同环境条件(室温、水下、预热)下摩擦堆焊实验的相关数据及说明文档,支持对环境因素与摩擦堆焊工艺关系的分析。 文件详解 0_readme.pdf:PDF格式文档,为数据集说明文件,可能包含实验背景、数据采集方法及文件结构等信息。 Room temperature...
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  • 室温下磁电铁石榴石中电门控激光诱导自旋动力学数据集

    2025年12月21日 30 61 16

    数据集概述 该数据集为一个压缩文件,包含论文“室温下磁电铁石榴石中电门控激光诱导自旋动力学”所用的全部原始数据及Python脚本,可支持相关研究的数据复现与分析。 文件详解 文件名称: dataset of Electrically-gated laser-induced spin dynamics in magneto-electric iron...
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  • 不同频率范围下组织体模配方数据集

    2025年12月19日 30 124 108

    数据集概述 本数据集包含组织体模配方及介电常数测量数据,覆盖窄带与宽带频率范围。内容涉及常用盐溶液(PBS、EBSS)、细胞培养基(DMEM等)的介电常数测量,以及血液、软骨等十余种组织体模的配方,支持生物医学相关实验研究。 文件详解 文件名称:...
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  • 室温下硅基外延生长Sb2Te3拓扑绝缘体自旋电荷转换数据集

    2025年12月15日 30 92 90

    数据集概述 该数据集包含与论文“Large Spin-to-Charge Conversion at Room Temperature in Extended Epitaxial Sb2Te3 Topological Insulator Chemically Grown on...
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  • 基于阻抗的不均匀使用下电池性能预测数据集

    2025年12月14日 30 37 36

    数据集概述 本数据集包含八十八颗商用锂离子纽扣电池在多阶段恒流充放电下的循环数据,通过随机改变循环间电流模拟实际使用模式,核心记录阻抗谱测量与充放电参数,用于支持电池性能预测研究。 文件详解 文件名称: raw-data.zip 文件格式: ZIP压缩包 包含内容: Variable Discharge组: 24颗Powerstream...
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  • 石墨烯_ReS2异质结构室温下栅极可调自旋电荷转换数据集

    2025年12月13日 30 58 53

    数据集概述 本数据集包含石墨烯/ReS2异质结构在室温条件下栅极可调自旋电荷转换的原始数据,为研究该异质结构材料的自旋电荷转换特性提供基础数据支持。 文件详解 文件名称: Raw_Data.zip 文件格式: ZIP (.zip) 文件内容: 包含石墨烯/ReS2异质结构室温下栅极可调自旋电荷转换的原始数据,无明确文件内部分类或分割信息 适用场景...
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  • Ti_6Al_4V增材与传统制造变体温度依赖弹性模量BAM参考数据集

    2025年12月12日 30 142 96

    数据集概述 本数据集为BAM参考数据,包含钛合金Ti-6Al-4V增材制造变体(激光定向能量沉积)与传统工艺变体(热轧棒材)在室温至400°C间的弹性性能(杨氏模量、剪切模量),由认证实验室用校准设备生成,校准可溯源。 文件详解 文件名称:2025-01-08_Coversheet_Ti-6Al-4V.pdf 文件格式:PDF...
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  • X射线损伤对室温及低温蛋白质晶体构象异质性影响的统计分析数据集

    2025年12月7日 30 139 115

    数据集概述 该数据集为支持题为“评估X射线损伤对室温及低温蛋白质晶体构象异质性的影响”的研究手稿而发布,主要包含相关实验的原始数据统计分析内容,涉及室温(277K)和低温(100K)条件下蛋白质晶体受X射线损伤后的构象异质性变化。 文件详解 文件名称:Yabukarski_PCC_MSE_raw_data.pdf 文件格式:PDF...
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  • GaN外延生长过程中不同阶段复折射率测定数据集1045

    2025年12月6日 30 138 21

    数据集概述 本数据集记录了1045℃下GaN层在MOVPE外延生长过程中不同阶段的复折射率(n+ik)。通过AIXTRON反应器内的反射光谱测量,结合模拟分析得到薄膜参数,包含生长关键节点及室温下的复折射率数据。 文件详解 该数据集包含文本数据文件和图片文件,具体说明如下: - 文本数据文件(共3个): -...
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