数据集 - 海数据

半导体晶圆缺陷预测数据集SemiconductorWaferDefectPrediction-gilcamelot

2025年5月17日 30 106 82

半导体晶圆缺陷预测数据集SemiconductorWaferDefectPrediction-gilcamelot 数据来源：互联网公开数据标签：半导体, 晶圆, 缺陷检测, 机器学习, 预测模型, 质量控制, 数据分析, 制造业数据概述：该数据集包含来自半导体制造过程的晶圆缺陷检测数据，用于构建预测模型，以识别和预测晶圆的缺陷。主要特征如下：...

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半导体晶圆缺陷检测数据集WaferFaultDetectionDataset-subhanshubabbar

2025年4月24日 30 20 16

半导体晶圆缺陷检测数据集WaferFaultDetectionDataset-subhanshubabbar 数据来源：互联网公开数据标签：半导体，晶圆，缺陷检测，数据集，机器学习，图像处理，工业自动化，质量控制数据概述：该数据集包含来自半导体制造厂的晶圆缺陷检测数据，记录了晶圆表面的缺陷信息。主要特征如下：...