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标签: 电路瞬态

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  • CMOS技术逻辑电路单事件多瞬态可能性量化数据集

    2025年11月29日 30 6 0

    数据集概述 该数据集聚焦于体硅CMOS技术逻辑电路中单事件多瞬态(Single Event Multiple Transients)发生可能性的量化研究,包含65nm平面晶体管(2D和3D)的器件模拟原始数据、仿真模板、CSV文件及自动化Python脚本,为相关电路可靠性分析提供支持。 文件详解 压缩文件: upload.tar.gz:...
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