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标签: 端元分析

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  • 苹果表型无损检测光谱指数与端元分析研究数据集

    2025年12月16日 30 82 54

    数据集概述 本数据集围绕苹果表型无损检测研究，包含基于高光谱成像技术开发的果实特异性光谱指数及端元分析相关的图像与补充材料，为苹果表型非破坏性评估提供视觉化与辅助资料支持。 文件详解 图片文件（.jpg格式，共4个）： Figure 1.jpg、Figure 2.jpg、Figure 3.jpg、Figure...
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