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分类: 公开数据 标签: Ga2O3_Si材料

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  • Ga2O3_Si基半导体材料XRD_Raman完整表征数据

    2025年11月27日 30 15 5

    数据集概述 本数据集包含Ga2O3（氧化镓）在Si（硅）衬底上制备的半导体材料的X射线衍射（XRD）和拉曼光谱（Raman）表征数据。数据来源于材料表征实验，包含原始测量数据和相应的分析文件，主要用于分析Ga2O3薄膜的晶体结构、物相组成和振动模式等材料特性。数据集共包含8个文件，涵盖多种数据格式。 文件详解 XRD数据文件...
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