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半导体晶圆缺陷预测数据集SemiconductorWaferDefectPrediction-gilcamelot
2025年5月17日 30 140 35
半导体晶圆缺陷预测数据集SemiconductorWaferDefectPrediction-gilcamelot 数据来源：互联网公开数据 标签：半导体, 晶圆, 缺陷检测, 机器学习, 预测模型, 质量控制, 数据分析, 制造业 数据概述： 该数据集包含来自半导体制造过程的晶圆缺陷检测数据，用于构建预测模型，以识别和预测晶圆的缺陷。主要特征如下：...
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半导体晶圆缺陷检测数据集WaferFaultDetectionDataset-subhanshubabbar
2025年4月24日 30 9 0
半导体晶圆缺陷检测数据集WaferFaultDetectionDataset-subhanshubabbar 数据来源：互联网公开数据 标签：半导体，晶圆，缺陷检测，数据集，机器学习，图像处理，工业自动化，质量控制 数据概述：该数据集包含来自半导体制造厂的晶圆缺陷检测数据，记录了晶圆表面的缺陷信息。主要特征如下：...
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半导体晶圆传感器数据集1963-2021
2025年4月14日 30 6 5
半导体晶圆传感器数据集1963-2021 数据来源：互联网公开数据 标签：半导体,晶圆,传感器数据,电子产品,集成电路,制造过程,质量控制 数据概述：...
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半导体晶圆制造与质量分析数据集
2025年4月14日 30 31 27
半导体晶圆制造与质量分析数据集 数据来源：互联网公开数据 标签：半导体,晶圆,制造,质量,电子,工艺,微电子,材料,芯片,光伏 数据概述：...
