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标签: 位错分析

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  • GaN_Dislocations_1_EBSD半导体材料表征示例数据

    2026年1月27日 30 91 80

    数据集概述 本数据集为GaN样品的EBSD（电子背散射衍射）示例数据，由Naresh Gunasekar测量、Aimo Winkelmann完成数据转换。数据以压缩包形式存储，包含1个文件，无目录层级划分，未区分训练/测试、数据/标签或原始/处理数据类型。 文件详解 文件名称：GaN_Dislocations_1.zip 文件格式：ZIP...
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  • X射线线轮廓缺陷分析与变形材料原子模型验证数据集

    2025年12月13日 30 11 1

    数据集概述 本数据集包含与两篇相关学术论文（均已投稿）关联的数据、分析脚本及Jupyter笔记本，用于验证基于原子模型的X射线线轮廓缺陷分析方法，为材料科学领域的缺陷分析提供数据支持。 文件详解 文件名称：README.txt，文件格式：TXT 内容：说明压缩包内数据结构，包含变形材料模拟数据、CMWP拟合分析数据、位错分析结果等目录的简要描述...
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