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标签: EBSD数据转换

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  • GaN_Dislocations_1_EBSD半导体材料表征示例数据

    2026年1月27日 30 79 64

    数据集概述 本数据集为GaN样品的EBSD（电子背散射衍射）示例数据，由Naresh Gunasekar测量、Aimo Winkelmann完成数据转换。数据以压缩包形式存储，包含1个文件，无目录层级划分，未区分训练/测试、数据/标签或原始/处理数据类型。 文件详解 文件名称：GaN_Dislocations_1.zip 文件格式：ZIP...
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