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标签: NiFe8032

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  • NiFe_8032_CCD_Scan_Advanced_Light_Source校准数据集

    2026年1月12日 30 173 165

    数据集概述 本数据集为NiFe_8032的CCD扫描校准数据，在Advanced Light Source（Berkeley, CA）的Beamline 4.0.2使用共振软X射线散射终端站测量，包含200纳米×200纳米间距的校准标准数据，共1个压缩文件。 文件详解 文件名称：CCD Scan 8032.zip 文件格式：ZIP...
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