NiFe_8032_CCD_Scan_Advanced_Light_Source校准数据集

数据集概述

本数据集为NiFe_8032的CCD扫描校准数据，在Advanced Light Source（Berkeley, CA）的Beamline 4.0.2使用共振软X射线散射终端站测量，包含200纳米×200纳米间距的校准标准数据，共1个压缩文件。

文件详解

• 文件名称：CCD Scan 8032.zip
• 文件格式：ZIP
• 字段映射介绍：压缩文件包含NiFe_8032的CCD扫描校准数据，涉及200纳米×200纳米间距的校准标准信息，无公开的README或内容预览。

数据来源

Advanced Light Source（Berkeley, CA）Beamline 4.0.2共振软X射线散射终端站

适用场景

• X射线散射实验校准: 用于Advanced Light Source Beamline 4.0.2实验装置的校准验证。
• 共振软X射线散射技术研究: 支持共振软X射线散射终端站的性能分析与参数优化。
• 纳米尺度校准标准应用: 基于200纳米×200纳米间距的校准标准数据，开展相关纳米尺度测量的校准研究。
• 实验数据预处理参考: 为类似CCD扫描实验的数据处理提供校准数据参考。