数据集概述
本数据集为"AFM interlaboratory comparison for nanodimensional metrology on silicon nanowires"论文相关数据，包含1个压缩文件，记录原子力显微镜（AFM）在硅纳米线纳米尺寸计量中的实验室间比对信息，用于纳米测量一致性与准确性分析。
文件详解
- 文件名称：NANOWIRES DATA.zip
- 文件格式：ZIP（压缩包）
- 字段映射介绍：压缩包内包含与硅纳米线纳米尺寸计量原子力显微镜实验室间比对相关的数据，具体字段需解压后查看，原数据未提供预览内容。
数据来源
论文“AFM interlaboratory comparison for nanodimensional metrology on silicon nanowires”
适用场景
- 纳米计量技术验证: 分析原子力显微镜在硅纳米线尺寸测量中的实验室间一致性与准确性。
- 纳米测量方法优化: 基于比对数据改进硅纳米线纳米尺寸测量的实验流程与数据处理方法。
- 纳米器件质量控制: 为硅纳米线基纳米器件的尺寸表征提供计量比对参考依据。
- 计量标准建立: 支撑硅纳米线纳米尺寸计量领域的实验室间比对标准与规范制定。
