数据集概述
本数据集为论文“Efficient calculation of carrier scattering rates from first principles”的支持数据，包含通过AMSET软件包、恒定弛豫时间（CRT）近似和标度弛豫时间（SRT）近似计算得到的温度及载流子浓度相关电子迁移率、塞贝克系数，以及所有材料的vasprun.xml文件。
文件详解
- 文件名称：
amset-supporting-data-v1.0.2.zip
- 文件格式：ZIP
- 字段映射介绍：压缩包内包含两类核心内容：一是基于AMSET、CRT、SRT方法计算的温度与载流子浓度依赖的电子迁移率、塞贝克系数数据；二是所有材料的vasprun.xml文件（VASP计算输出文件，记录第一性原理计算的电子结构等信息）。
数据来源
论文“Efficient calculation of carrier scattering rates from first principles”
适用场景
- 载流子传输特性研究：分析温度、载流子浓度对电子迁移率和塞贝克系数的影响，对比不同弛豫时间近似方法的计算结果。
- 材料第一性原理计算验证：利用vasprun.xml文件复现或验证材料的电子结构与载流子散射率计算过程。
- 热电材料性能优化：基于迁移率、塞贝克系数数据筛选或设计高性能热电材料。
- 计算方法对比分析：评估AMSET、CRT、SRT三种方法在载流子散射率计算中的效率与精度。
