数据集概述
本数据集包含微劳厄衍射实验原始索引数据及位错密度分析结果，用于研究滑移带-晶界交处的位错密度分布。原始数据来自美国先进光子源34-ID-E光束线的微分孔径X射线微劳厄衍射实验，分析结果以Matlab格式存储，包含2D和3D位错密度分布及总密度图。
文件详解
- Ti-Bi.xml
- 文件格式：XML
- 字段映射介绍：美国先进光子源34-ID-E光束线微分孔径X射线微劳厄衍射实验的索引数据集，需导入LaueGo软件以获取应变和旋转场。
- GND_data_Zenodo.mat
- 文件格式：Matlab（.mat）
- 字段映射介绍：包含旋转场和GND密度结果，具体结构为：
- GND_rho_2D/GND_rho_3D：31个切片的33种位错密度数据，每个切片为4462×33矩阵（对应194×23像素图像），列对应'sliplabels'中的33种位错类型
- GND_total_2D/GND_total_3D：2D和3D总位错密度图，每个单元为194×23像素的3D数据切片
数据来源
美国Advanced Photon Source（APS）34-ID-E光束线实验数据及相关研究分析结果
适用场景
- 材料科学研究：分析滑移带-晶界交处的位错密度分布特征
- 衍射数据分析：利用微劳厄衍射原始数据研究材料的应变和旋转场
- 位错密度可视化：基于Matlab文件中的2D/3D位错密度数据进行材料微观结构可视化
- 材料性能关联研究：探索位错密度分布与材料力学性能的关系
