变光照下开尔文探针力显微镜技术数据集

数据集概述

本数据集围绕变光照下开尔文探针力显微镜技术展开，包含对数尺度表面光电压曲线、不同处理阶段XPS结果、暗环境放置后的表面光电压数据，以及更高空间分辨率的原子力显微镜和接触电位差图谱，为研究氮化镓中电荷载流子动力学提供支撑。

文件详解

• 文件名称：jp3c01887_si_001.pdf
• 文件格式：PDF
• 内容包含：对数尺度表面光电压（SPV）曲线；加热前、加热后、溅射后的X射线光电子能谱（XPS）结果；暗环境放置多日后的SPV数据；更大区域且空间分辨率更高的原子力显微镜（AFM）与接触电位差（CPD）图谱（含加热前后对比）

适用场景

• 半导体材料研究：分析氮化镓（GaN）中电荷载流子的动态过程
• 表面物理分析：探究变光照条件对材料表面电位与光响应特性的影响
• 材料表征技术验证：评估开尔文探针力显微镜在复杂光照环境下的应用效果
• 光电子能谱数据分析：对比不同处理阶段材料表面成分与化学状态的变化