BilKristal_4_0晶体参数提取与缺陷量化工具

数据集概述

本数据集为晶体学工具BilKristal 4.0的归档文件，是BilKristal 3.0的修订版，新增射线截图可视化分析、原子距离分析（用于结晶缺陷评估）及高级切割功能定义，修复了已知漏洞并优化性能，用于晶体结构参数提取与缺陷量化。

文件详解

• 文件名称: adyu_v4_0.tar.gz
• 文件格式: GZ压缩包（.gz）
• 内容说明: 该压缩包包含晶体学工具BilKristal 4.0的程序文件，工具新增射线截图、原子距离分析功能及高级切割可视化功能，可用于晶体结构参数提取与缺陷量化分析。

数据来源

CPC Program Library（Queen's University Belfast，1969-2019）、Mendeley Data

适用场景

• 晶体学研究: 提取材料晶体结构参数，辅助理解材料物理行为
• 材料缺陷分析: 利用原子距离分析功能量化结晶缺陷
• 晶体结构可视化: 通过高级切割功能与射线截图功能进行晶体结构的可视化研究
• 材料科学应用: 支持复杂晶体结构（含局部与全局对称性）的参数解析