数据集概述
本数据集为纳米多孔BiVO4/TiO2/Ti薄膜的制备及光电化学性能测试数据，包含不同电沉积时间（10、30、100、500、1000秒）样品的表征结果，涉及形貌、晶体结构、光吸收及电化学性能等关键指标，可用于分析薄膜结构与光电催化效率的关联。
文件详解
- UV数据文件
- 文件名称：UV data for different photoelectrode in Figure S3.xlsx
- 文件格式：XLSX
- 字段映射介绍：包含不同光电电极的紫外-可见光谱吸收数据，用于分析电沉积时间对薄膜光吸收强度及带隙的影响
- EIS数据文件
- 文件名称：EIS data.xlsx
- 文件格式：XLSX
- 字段映射介绍：包含电化学阻抗谱数据，用于分析不同样品的电荷转移电阻特性
- 电流-时间数据文件
- 文件名称：i-t data.xlsx
- 文件格式：XLSX
- 字段映射介绍：包含光电流密度随时间变化的数据，记录0.6V vs.饱和甘汞电极下的光电响应性能
- XRD数据文件
- 文件名称：data for XRD pattern for different photoelectrode in Figure 1.xlsx
- 文件格式：XLSX
- 字段映射介绍：包含不同光电电极的X射线衍射图谱数据，用于分析薄膜的晶体结构特征
数据来源
论文“Preparation of nanoporous BiVO4/TiO2/Ti film through electrodeposition for photoelectrochemical water splitting”
适用场景
- 纳米材料制备工艺优化：分析电沉积时间对BiVO4/TiO2/Ti薄膜结构与性能的影响
- 光电化学水分解性能研究：评估不同薄膜样品的光催化效率及电荷转移特性
- 半导体材料带隙调控分析：通过UV-vis光谱数据研究薄膜的光吸收性能及带隙变化
- 电化学阻抗谱数据分析：探索薄膜电极的界面电荷传输机制及电阻特性
