超薄拓扑绝缘体_Bi1_xSbx_2Te3电学输运性质表面杂交能隙观测论文数据集

数据集概述

本数据集对应论文《Observation of the surface hybridization gap in the electrical transport properties of the ultrathin topological insulator (Bi1-xSbx)2Te3》的原始数据，主要包含论文中图表相关的实验或分析原始数据，为复现论文结果提供数据支持。

文件详解

• 文件名称: Data repository.zip
• 文件格式: ZIP压缩包
• 内容说明: 该压缩包包含论文图表对应的原始数据文件，具体内部文件结构及字段信息需解压后查看

适用场景

• 凝聚态物理研究: 复现超薄拓扑绝缘体电学输运性质相关实验结果
• 材料科学分析: 研究(Bi1-xSbx)2Te3材料表面杂交能隙的形成机制
• 论文数据验证: 支持对原论文结论的验证与扩展研究
• 拓扑绝缘体领域: 为相关理论模型构建提供实验数据参考