数据集概述
本数据集对应论文《Dewetting-Assisted Patterning: A Lithography-Free Route to Synthesize Black and Colored Silicon》，包含去润湿辅助图案化技术制备黑硅与彩色硅的实验数据，涉及金属覆盖度计算、样品处理参数及反射光谱等内容，共18个文件，支持材料合成过程与性能分析。
文件详解
- 数据文件（.xlsx，15个）
- 命名示例：1-Metal Coverage Final.xlsx、2-140223Au(9±1nm)HT250(1m)MAC(2)-12.xlsx、11-140223AuAg(19 ± 2)HT(5)M(2)-06.xlsx
- 字段映射：包含金属覆盖度原始数据、样品处理参数（金属类型、厚度、热处理条件）、实验测量结果等字段
- 文档文件（.txt，1个）
- 文件名称：Description of the data.txt
- 内容：数据集说明文档，解释Excel文件的原始数据用途（如金属覆盖度计算）
- 其他文件（.opju，2个）
- 命名示例：16-Experimental normalized reflectance spectra of Si arrays - Fig 4b.opju、17-Simulated and experimental normalized reflectance spectra of Si arrays - Fig 4a and S7.opju
- 内容：反射光谱相关的实验与模拟数据文件
数据来源
论文《Dewetting-Assisted Patterning: A Lithography-Free Route to Synthesize Black and Colored Silicon》（ACS Applied Materials and Interfaces）
适用场景
- 材料合成技术研究：分析去润湿辅助图案化技术制备黑硅与彩色硅的工艺参数与效果
- 金属覆盖度计算：基于Excel原始数据研究硅纳米结构覆盖度的计算方法
- 反射光谱分析：利用.opju文件中的实验与模拟反射光谱数据，研究硅阵列的光学性能
- 材料性能优化：通过不同金属类型、厚度及热处理条件的实验数据，优化黑硅与彩色硅的制备工艺
- 学术论文数据复现：支持论文中实验结果的验证与复现，辅助相关材料科学研究
