数据集概述
本数据集为论文“Charge-Induced Artifacts in Nonlocal Spin-Transport Measurements: How to Prevent Spurious Voltage Signals”的配套支持数据，包含研究中使用的图表数据、仿真模型、电路设计文件、PCB制造文件及材料清单，用于复现实验与分析电荷诱导伪影的预防方法。
文件详解
- 图表数据压缩包（Data presented in figures.zip）
- 文件格式：ZIP
- 内容说明：包含原始数据（.dat/.txt/.csv格式）和图形化处理数据（OriginPro 2019生成的.opju格式），对应论文主稿及补充材料的所有图表。
- LTspice仿真模型压缩包（LTspice models.zip）
- 文件格式：ZIP
- 内容说明：用于LTspice XVII(x64)软件的仿真模型文件，支持实验相关的电路仿真。
- Altium Designer设计文件压缩包（Altium Designer files.zip）
- 文件格式：ZIP
- 内容说明：电流源的Altium Designer电路设计文件，包含硬件设计的详细参数。
- PCB制造文件压缩包（Fabrication files.zip）
- 文件格式：ZIP
- 内容说明：PCB制造用的Gerber X2和NC钻孔文件（单位：毫米），含制造流程说明的readme文件。
- 材料清单（Bill Of Materials.xlsx）
- 文件格式：XLSX
- 内容说明：实验所用的材料清单，记录各组件的详细信息。
数据来源
论文“Charge-Induced Artifacts in Nonlocal Spin-Transport Measurements: How to Prevent Spurious Voltage Signals”
适用场景
- 自旋输运测量伪影分析: 利用图表数据研究电荷诱导伪影的特征与产生机制。
- 实验复现与验证: 通过仿真模型、设计文件及制造文件复现论文中的实验设置。
- 电路设计优化: 基于Altium Designer文件与材料清单改进电流源设计，预防伪影。
- PCB制造参考: 使用Gerber文件与钻孔文件制作实验所需的印刷电路板。
