数据集概述
本数据集围绕低能MeV二次离子质谱（MeV SIMS）技术展开，探究该技术在无机与有机样品同时分析中的可行性，包含实验过程记录、产额测量数据及样品成像结果等内容。
文件详解
- 实验记录文件（PDF格式）：
- ELOG - LE MeV SIMS hybrid sample imaging.pdf：低能MeV SIMS混合样品成像的实验记录文档
- ELOG - LE MeV SIMS Ar sputter cleaning + yield meas. of various inorganic samples (1).pdf：氩溅射清洗及多种无机样品产额测量的实验记录文档（1）
- ELOG - LE MeV SIMS Ar sputter cleaning + yield meas. of various inorganic samples (2).pdf：氩溅射清洗及多种无机样品产额测量的实验记录文档（2）
- ELOG - LE MeV SIMS Ar sputter cleaning + yield meas. of various inorganic samples (3).pdf：氩溅射清洗及多种无机样品产额测量的实验记录文档（3）
- ELOG - LE MeV SIMS - yield dependence of ITO, ZrO and leucine.pdf：ITO、ZrO和亮氨酸产额依赖性的实验记录文档
- 数据压缩包：
- data.zip：可能包含实验原始或处理数据的压缩文件
适用场景
- 质谱分析技术研究：用于低能MeV SIMS技术的性能验证与方法优化
- 材料分析应用：探究无机与有机样品同时分析的可行性及条件参数
- 实验方法参考：为二次离子质谱实验设计及数据处理提供实践案例
- 材料科学研究：分析不同能量离子束对无机材料产额及成像效果的影响
