数据集概述
该数据集围绕低压二次电子发射光谱显微术（SEES）展开，包含利用扫描俄歇显微镜（SAM）在超高真空环境下获取的铬薄膜在500V和1000V低压下的SEES信号数据、原始图像及说明文档，为表面表征研究提供支持。
文件详解
- 说明文档:
- Readme.pdf: PDF格式，提供数据集相关背景、实验方法或数据说明
- 图像文件:
- Fig_1_rawSEES.jpg: JPG格式，原始SEES信号图像
- Fig_2_derivativeSEES.jpg: JPG格式，导数SEES信号图像
- 数据文件:
- SEESdata.csv: CSV格式，包含E、N*E、NI、Normalized1、Derivative Y1等字段的SEES数据
- SEESdata.xls: XLS格式，SEES数据的Excel版本
适用场景
- 材料表面表征研究: 分析低压下二次电子发射特性与材料表面性质的关系
- 电子显微技术优化: 探究超高真空环境下SEES技术的应用潜力
- 薄膜材料分析: 研究铬薄膜等超薄材料的表面电子发射行为
- 真空科学与技术研究: 验证低压电子束技术在表面分析中的可行性
