对称奈尔壁薄膜磁学数据集

数据集概述

本数据集包含用于计算薄膜磁学中对称奈尔壁（Symmetric Néel Walls）结构与能量的程序数据。核心围绕薄膜厚度、磁化旋转角、各向异性常数等参数，输出壁能量、结构细节、特征宽度及自洽参数，支持单轴与多轴各向异性模拟。

文件详解

• 文件名称: Symmetric néel walls in thin magnetic films/ackb_v1_0.gz
• 文件格式: GZ压缩包 (.gz)
• 内容说明: 包含对称奈尔壁计算程序的核心数据文件，具体字段及结构需解压后查看原始代码或文档

数据来源

CPC Program Library（Queen's University Belfast）

适用场景

• 薄膜磁学研究: 分析奈尔壁结构与外部参数（厚度、磁场、各向异性）的关联
• 磁性材料设计: 模拟不同各向异性常数下的壁能量与宽度特征
• 磁存储技术开发: 研究奈尔壁在磁存储器件中的行为与应用潜力
• 计算磁学方法验证: 复现对称奈尔壁的自洽参数计算过程