二维异质外延纳米系统RHEED强度数据集

数据集概述

该数据集包含二维异质外延纳米系统的反射高能电子衍射（RHEED）强度相关数据，基于动态衍射理论计算分子束外延生长表面的RHEED结果，支持异质外延层厚度与成分的无损评估，为相关结构的RHEED摇摆曲线模拟提供数据基础。

文件详解

• 文件名称: aetw_v1_0.tar.gz
• 文件格式: 压缩包（.gz）
• 内容说明: 该压缩包可能包含RHEED_DIFF程序及相关数据文件，用于计算二维异质外延纳米系统的RHEED强度，具体文件结构与字段需解压后查看

适用场景

• 材料科学研究: 分析异质外延层的生长特性与结构质量
• 纳米技术应用: 支持二维纳米系统的RHEED摇摆曲线模拟与验证
• 无损检测研究: 探索基于RHEED强度的材料厚度与成分评估方法
• 计算材料学: 用于动态衍射理论在纳米系统表征中的应用研究