数据集概述
本数据集为论文《Van der Waals devices for surface-sensitive experiments》的关联数据，包含ARPES原始数据、实验图像、输运数据及AFM扫描文件，支撑论文中关键图表的结果呈现，为范德华器件表面敏感实验研究提供基础数据。
文件详解
该数据集包含多种类型文件，具体说明如下：
- ARPES原始数据文件（.mat格式）：
- 4D_ARPES_Fig2_raw_I00016.mat：粗4D（空间x、空间y、角度、能量）µARPES扫描数据，对应论文图2b
- 4D_ARPES_Fig3_raw_I00021.mat：精细4D µARPES扫描数据，对应论文图3a、d
- FermiMap3D_Fig3_P00011.mat：3D费米图数据，对应论文图3c
- Spectrum2D_Fig3_P00010.mat：2D光谱数据，对应论文图3b
- kmeans_cluster_EDCs_mean.mat、kmeans_cluster_EDCs_std-dev.mat：k均值聚类结果数据，对应论文图3e
- 实验图像文件（.png格式）：
- 包含Stencil Bridge.png、Stencil Wafer.png、Device Full.png等7个文件，对应论文图2a、图4中的掩模、金触点等图像
- 输运数据文件（.txt格式）：
- iv_switching_data.txt：I(V)测量数据，包含Current[mA]、Voltage[V]字段
- rvst_data.txt：R(T)曲线数据
- AFM扫描文件（多通道格式）：
- AFM_monolayer_bottom.007：单层（0.7 nm）AFM扫描数据
- AFM_bulk.002：主体块体薄片（45 nm）AFM扫描数据
- AFM_bulk_bottomleftcorner.004：薄片左下角（24 nm）AFM扫描数据
适用场景
- 凝聚态物理研究：分析范德华器件的电子结构与表面特性
- 材料科学实验：探究二维材料器件的输运性能与形貌特征
- 实验方法验证：复现论文中ARPES、AFM等实验技术的结果
- 数据处理方法研究：基于k均值聚类等算法开展光谱数据分析
