厚靶银锆钼钨内壳层特征X射线产额数据集_5_30keV电子轰击

数据集概述

该数据集包含5-30keV电子轰击下，厚银（Ag）、锆（Zr）、钼（Mo）、钨（W）靶的内壳层特征X射线产额测量数据，是两篇已发表论文的补充材料，记录了特定实验条件下的X射线产额结果。

文件详解

• 压缩文件:
• Thick-target X-ray yields.zip: ZIP格式压缩文件，包含厚靶X射线产额的核心数据，具体字段及内容需解压后查看原始文件

适用场景

• 辐射物理研究: 分析不同能量电子轰击下厚金属靶的X射线产额特性
• 核仪器方法验证: 支撑核物理实验中X射线检测设备的校准与性能评估
• 材料科学分析: 研究金属靶表面抛光处理对X射线发射的影响
• 电子束与物质相互作用机制探究: 探索5-30keV电子与厚靶相互作用的物理过程