IonRock_离子注入半导体应变梯度求解软件数据集

数据集概述

该数据集包含IonRock软件（版本1.0），用于通过X射线衍射测量和进化规划算法求解离子注入半导体的应变梯度。软件采用改进遗传算法优化拟合摇摆曲线，解决离子注入半导体应变测定的逆问题，适用于闪锌矿结构半导体分析。

文件详解

• 压缩包文件：adtp_v1_0.tar.gz，格式为.gz，包含IonRock软件（版本1.0）的完整程序包，用于实现离子注入半导体应变梯度的计算功能

数据来源

CPC Program Library（Queen's University Belfast，1969-2018）

适用场景

• 半导体材料研究：分析离子注入对半导体应变梯度的影响
• X射线衍射数据分析：优化摇摆曲线拟合以提取材料应变信息
• 计算材料科学：验证进化规划算法在材料物理问题中的应用效果
• 半导体工艺优化：为离子注入工艺参数调整提供应变数据支持