晶体表面反射高能电子衍射条纹图案高效运动学模拟数据集

数据集概述

本数据集围绕晶体表面反射高能电子衍射（RHEED）条纹图案的高效运动学模拟展开，包含RHEEDsim程序及相关资源，基于单电子散射事件的运动学方法，可区分细微结构模型差异，为晶体表面结构研究提供数据支持。

文件详解

• 文件名称: aejc_v1_0.tar.gz
• 文件格式: GZ压缩包（.gz）
• 文件内容: 包含RHEEDsim程序及相关资源，该程序具备用户友好的图形界面，用于模拟晶体表面的反射高能电子衍射图案，计算基于运动学方法，可输出二维模拟结果。

数据来源

CPC Program Library（Queen's University Belfast）、Mendeley Data

适用场景

• 材料科学研究: 用于模拟和分析晶体表面的反射高能电子衍射条纹图案，辅助表面结构模型验证
• 半导体材料分析: 支持半导体及合金生长表面重构的研究，通过衍射条纹特征推断表面结构
• 实验表征辅助: 结合超高真空分子束外延系统，为RHEED实验结果提供模拟对照，提升表面结构解析效率
• 计算材料学应用: 作为运动学模拟方法的实例，用于相关模拟程序开发或算法优化参考