可扩展离子阱量子处理器的抗错快速纠缠门数据集

数据集概述

该数据集是论文《Error-Resilient Fast Entangling Gates for Scalable Ion-Trap Quantum Processors》的配套数据，围绕可扩展离子阱量子处理器的抗错快速纠缠门设计展开，为相关研究提供数据支持。

文件详解

• 文件名称: DATASET_GATEDESIGN_12Aug25.zip
• 文件格式: ZIP (.zip)
• 内容说明: 压缩包文件，具体字段及内容需解压后查看，无预览信息

适用场景

• 量子计算硬件研究: 分析离子阱量子处理器中纠缠门的抗错设计与性能优化
• 量子门设计验证: 验证快速纠缠门在可扩展量子系统中的可行性与稳定性
• 量子纠错技术研究: 探索抗错机制对量子门运算效率的影响
• 量子处理器架构开发: 为可扩展离子阱量子处理器的架构设计提供数据参考