数据集概述
本数据集包含硫族原子在大面积二维半导体过渡金属二硫属化物原位剥离研究中的实验数据，涵盖光学显微镜、原子力显微镜（AFM）、低能电子衍射（LEED）和X射线光电子能谱（XPS）等测量结果，为相关研究提供多维度实验支撑。
文件详解
该数据集包含16个文件，无目录结构，具体说明如下：
- 光学显微镜与LEED图像文件（JPEG/PNG格式）：
- 示例文件：Figure2a_Sample3.jpg、Figure3a.jpg、Figure4a.png等
- 内容：实验样品的光学显微镜图像及LEED数据图像
- AFM数据文件（SPM格式）：
- 示例文件：Figure4b_WSe2-Ag-S1.0_00000.spm
- 内容：原子力显微镜测量的样品表面形貌数据
- XPS数据文件（TXT格式）：
- 示例文件：230418BD WSe2_W4f_Figure5b.txt、230418BD_WSe2_Au_Survey_Figure5a.txt等
- 内容：X射线光电子能谱测量的元素能谱数据，包含W4f、Se3p等元素轨道信息
数据来源
荷兰格罗宁根大学泽尼克高级材料研究所（Zernike Institute for Advanced Materials）
适用场景
- 二维材料制备研究：分析硫族原子对过渡金属二硫属化物原位剥离过程的影响机制
- 材料表征方法验证：对比不同表征技术（AFM、XPS、LEED）在二维材料分析中的应用效果
- 半导体材料性能研究：探究二维半导体材料的表面结构与电子态特性
- 实验参数优化：基于标准化实验条件（如125 eV电子能量的LEED测量）优化二维材料表征方案
