数据集概述
本数据集为论文“Enhancement of Superconductivity by Amorphizing Molybdenum Silicide Films Using a Focused Ion Beam”的配套数据，包含钼硅化物薄膜经聚焦离子束非晶化处理后的实验数据，涉及样品元数据、电阻-温度/电流-电压测试结果及薄膜图像等内容，共80个文件。
文件详解
- 元数据文件
- 文件名称：metadata2.txt、metadata_for_Enhancement_of_Superconductivity_by_amorphising_MoSi_using_FIB.xml
- 文件格式：TXT、XML
- 字段映射介绍：记录样品基本信息、实验参数等元数据
- 测试数据文件（TXT格式）
- 文件名称：遵循“VTT_Mo[硅含量]Si[钼含量]_[处理参数]-chip[编号]-[测试类型].txt”模式（如VTT_Mo10Si6_A10-chip0-NW3-RvsT-H.txt）
- 文件格式：TXT
- 字段映射介绍：包含电阻-温度（RvsT）、电流-电压（IV）等测试的数值数据，如电阻值、温度值、电流值、电压值等
- 图像文件（TIF格式）
- 文件名称：遵循“chip[编号]sample[编号][尺寸]um.tif”模式（如chip1_sample2_075um.tif）
- 文件格式：TIF
- 字段映射介绍：钼硅化物薄膜的微观结构图像文件
数据来源
论文“Enhancement of Superconductivity by Amorphizing Molybdenum Silicide Films Using a Focused Ion Beam”（DOI:10.3390/nano10050950）
适用场景
- 超导材料性能研究：分析钼硅化物薄膜非晶化处理对超导性的增强效果
- 材料实验数据分析：基于电阻-温度、电流-电压测试数据研究薄膜电学特性
- 材料微观结构研究：通过TIF图像分析薄膜非晶化后的微观结构变化
- 聚焦离子束处理工艺优化：探究不同非晶化处理参数对材料性能的影响
