NiFe_8044_Based先进光源X射线散射校准数据集

数据集概述

本数据集为NiFe_8044的CCD扫描校准数据，由美国加州伯克利先进光源（Advanced Light Source）Beamline 4.0.2的共振软X射线散射实验站测量生成，包含200纳米×200纳米间距的校准标准数据，以单压缩包形式存储。

文件详解

• 文件名称：CCD Scan 8044.zip
• 文件格式：ZIP
• 字段映射介绍：压缩包内包含NiFe_8044的CCD扫描校准数据，具体字段未通过预览获取，需解压后查看原始内容。

数据来源

Advanced Light Source（Berkeley, CA）Beamline 4.0.2共振软X射线散射实验站

适用场景

• X射线散射实验校准: 用于先进光源Beamline 4.0.2实验站的仪器校准与性能验证。
• 材料科学分析: 为NiFe材料的X射线散射特性研究提供标准校准数据参考。
• 实验方法优化: 支持共振软X射线散射实验的参数调整与数据质量控制。
• 科研仪器维护: 作为长期监测实验站稳定性的基准数据集。