数据集概述
本数据集为NanoValid项目Task 5.4的成果之一，围绕15纳米Lys-SNPs-B1二氧化硅纳米颗粒的表面电荷（zeta电位）开展实验室间比对研究，验证当前纳米颗粒理化性质测量方法的可比性，包含实验报告、数据背景及样品制备等文档。
文件详解
- Report Zeta potential ILC on Lys-SNPs-B1 silica nano particles - NanoValid D 5.47 Annex2.pdf：PDF格式，实验室间比对实验的核心报告，包含zeta电位测量结果、可比性分析及不确定度评估等内容
- NanoValid_D5_41_5_42 - data set for Silica used for ILC on zeta potential.pdf：PDF格式，提供用于zeta电位实验室间比对的二氧化硅纳米颗粒数据集背景信息
- Sample prep for 14 BAM Nano Silica .pdf：PDF格式，14号BAM纳米二氧化硅样品的制备方法说明文档
适用场景
- 纳米颗粒表征方法验证：用于测试和比较不同实验室测量纳米颗粒表面电荷（zeta电位）方法的一致性
- 测量不确定度评估研究：分析zeta电位测量中统计（A型）和系统（B型）误差对结果的影响
- 纳米材料理化性质研究：支持二氧化硅纳米颗粒表面电荷相关的实验设计与方法优化
- 纳米技术标准化工作：为纳米颗粒表征方法的标准化提供实验室间比对数据参考
