数据集概述
本数据集为论文补充表格S3，包含Starkville South（SVS）K-Pg边界板的主量与微量元素浓度数据。数据基于两条25微米地层分辨率的集成区域线扫描（IAL）剖面，采用表S2的微X射线荧光（µ-XRF）校准值，支持K-Pg边界地球化学特征研究。
文件详解
- 文件名称：Kaskes et al. - Table S3 - Micro XRF linescan data K-Pg boundary - v2.xlsx
- 文件格式：XLSX
- 字段映射介绍：包含Starkville South K-Pg边界板的主量与微量元素浓度数据，数据来源为两条25微米地层分辨率的集成区域线扫描（IAL）剖面，校准依据为表S2的µ-XRF校准值。
数据来源
Kaskes et al.（2024年12月提交至Geochemistry, Geophysics, Geosystems的手稿）
适用场景
- K-Pg边界地球化学研究: 分析Starkville South区域K-Pg边界板的元素浓度特征，探究边界事件的地球化学响应。
- 微X射线荧光数据应用: 基于µ-XRF校准值的元素浓度数据，支持相关分析方法的验证与应用。
- 地层分辨率元素分布分析: 利用25微米分辨率的线扫描数据，研究K-Pg边界板的精细元素分布规律。
- 地质年代学辅助研究: 为K-Pg边界的年代学划分提供地球化学数据支撑。
