椭偏仪逆问题求解软件工具数据集

数据集概述

本数据集为椭偏仪研究领域的补充材料，包含用Octave编写的软件工具，用于求解椭偏仪中的逆问题。该工具基于“利用振幅反射系数确定层和基底参数的解析解”研究，支持四种场景下的参数计算，为相关实验与分析提供技术支持。

文件详解

• 文件名称: Supplementary_ImmEllipsometryCode.zip
• 文件格式: ZIP压缩包
• 内容说明: 压缩包内包含用Octave编写的软件工具代码，用于求解椭偏仪中的逆问题，支持四种场景（吸收层/非吸收层分别对应任意基底/均匀基底）的参数解析计算。

适用场景

• 椭偏仪实验数据分析: 用于处理椭偏仪测量数据，计算薄膜层厚度、折射率等关键参数
• 光学薄膜研究: 支持吸收层与非吸收层在不同基底条件下的光学特性分析
• 材料科学实验: 辅助确定材料层与基底的光学参数，优化涂层设计
• 光学测量技术开发: 为椭偏仪逆问题求解算法的验证与改进提供参考工具