WS2薄片厚度测定的拉曼光谱映射与原子力显微镜统计分析数据集

数据集概述

本数据集通过拉曼光谱映射与原子力显微镜（AFM）统计分析，评估WS2纳米薄片的厚度。拉曼光谱基于E2g和A1g振动模式分离确定厚度，AFM采用轻敲模式扫描，为WS2薄片厚度测定提供可靠方法对比的数据支持。

文件详解

• 图像文件:
• 图片文件（.jpg/.png格式）: 如PER13-Z1._04.png、S4-PER6-Map2.jpg等，共8个文件，可能为拉曼光谱映射或AFM分析的可视化图像结果
• 文本文件:
• 文本文件（.txt格式）: 如S4-PER6-Map3.txt，共3个文件，包含X、Y坐标、波数（Wave）和强度（Intensity）等光谱数据字段
• 其他文件:
• 编号文件（.002/.004格式）: 如PER13-Z1.002、PER13-Z1.004，共2个文件，具体内容未明确

适用场景

• 二维材料表征研究: 分析WS2纳米薄片厚度与拉曼光谱特征的关联
• 显微镜技术对比: 探究拉曼光谱与AFM在纳米材料厚度测定中的一致性与差异
• 材料科学实验优化: 为WS2薄片制备工艺中厚度控制提供数据参考
• 光谱数据分析方法验证: 基于振动模式分离法的厚度测定方法可靠性验证