银纳米颗粒同位素稀释分析与尺寸测定数据集

数据集概述

本数据集聚焦银纳米颗粒（AgNPs）的质量与尺寸测定方法，基于同位素稀释（ID）结合单颗粒电感耦合等离子体飞行时间质谱（spICP-ToFMS）技术，优化实验条件以提升同位素比值测量精度，可表征颗粒质量及尺寸分布，为纳米颗粒分析提供方法参考。

文件详解

• 文件名称：ID_ICPTOFMS_Data.pdf
• 文件格式：PDF（.pdf）
• 文件内容：包含银纳米颗粒同位素稀释分析方法的研究论文，详细介绍技术原理、实验优化（如NIST RM 8017参考物质分析）、方法验证及应用结果，涉及同位素比值测量精度、尺寸测定不确定性等关键内容。

适用场景

• 纳米材料分析：银纳米颗粒质量与尺寸分布的精确测定研究
• 质谱分析方法学：同位素稀释结合spICP-ToFMS技术的优化与应用
• 纳米颗粒表征技术：多同位素元素纳米颗粒的尺寸分布分析
• 参考物质验证：纳米颗粒分析方法的准确性与精密度评估