印制电路板测试点坐标提取处理图像数据集
数据来源：互联网公开数据
标签：印制电路板,测试点坐标,图像处理,分类,异常检测,聚类,RGB颜色值
数据概述：
本数据集是一个CSV文件，最初用于从印制电路板（PCB）图像中提取测试点的坐标。数据集包含X和Y坐标，表示像素位置，以及R、G、B值，确定像素颜色（这些值经过0-255范围的最小-最大归一化）。'Grey'字段指示近似为灰色的像素。该数据集最初用于发现大量测试点（超过100个）的聚类，方法与Tan和Schumann Tong Wei Kit于2016年在《2016年先进机电系统国际会议》发表的论文中描述的方法不同，因此包含比论文中更多的像素点。
数据用途概述：
该数据集适用于测试点分类（例如，检测灰色测试点）、异常检测（例如，识别假测试点）或灰色测试点的聚类发现等多种应用场景。研究人员可以利用此数据进行图像处理和机器学习任务，如分类、异常检测和聚类分析；工程师可以使用这些数据来优化PCB的测试点设计；教育机构可以利用数据集进行教学，帮助学生理解图像处理和机器学习在电路板测试点检测中的应用。
