数据集概述
本数据集包含不同温度（一千一百五十摄氏度至一千三百摄氏度）和时长（二十分钟至一百八十分钟）烧结的PLZT样品的能量色散X射线光谱（EDS）数据，用于分析烧结过程中的铅损失情况及成分确认。
文件详解
- 光谱图像文件（JPEG格式，共二十个）：
- 示例文件名：EDS Spectrum recorded on PLZT sintered at 1250C for 20min.jpg等
- 内容：不同烧结条件下PLZT样品的EDS光谱图像
- 定量分析结果文件：
- 文件名称：eZAF Smart Quant results for EDS spectrum recorded on PLZT samples (ALL TABLES).docx
- 文件格式：MS Word (.docx)
- 内容：包含二十个eZAF Smart Quant定量分析表格，对应各烧结条件下的EDS结果
适用场景
- 材料科学研究：分析PLZT材料在不同烧结条件下的成分变化规律
- 陶瓷工艺优化：研究烧结温度和时长对PLZT铅损失的影响，优化烧结工艺参数
- 材料表征方法：验证EDS技术在陶瓷材料成分定量分析中的应用效果
- 功能材料开发：为高性能PLZT基压电、铁电材料的制备提供数据支持
