数据集 - 海数据

集成电路物理验证参数实验数据集

2025年12月26日 0 196 184

"英文标题：Integrated Circuit Physical Verification Parameter Experiment Dataset 数据集概述...

全球电子元件供需与贸易核心指标统计_2024

2025年12月26日 0 190 52

"英文标题：Global Electronic Components Supply Demand and Trade Core Indicators Statistics_2024 数据集概述...

热退火对硅中离子注入锰原子状态的影响数据集

2025年12月23日 30 199 92

数据集概述本数据集聚焦于热退火对硅中离子注入锰原子状态的影响，以PDF文档形式呈现相关研究内容，为材料科学领域中离子注入与退火工艺的研究提供数据支持。文件详解文件名称: Б.Э. Эгамбердиев.pdf 文件格式: PDF（.pdf）内容说明: 该文档为研究热退火对硅中离子注入锰原子状态影响的核心资料，具体内容需通过PDF文档查看。...

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无机光催化剂高通量筛选用于过氧化氢光生产数据集

2025年12月23日 30 180 138

数据集概述该数据集围绕过氧化氢光生产的无机光催化剂高通量筛选展开，介绍了整合机器人比色滴定工作站与现有平台的半自动化流程，用于快速评估光催化活性。通过文献数据库筛选出72种无机半导体，其中硒化镓表现最优，并包含其机制探究实验相关数据。文件详解文件名称: Data.zip 文件格式: ZIP (.zip) 内容说明:...

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无纳米光刻制备的超大规模MoS2晶体管与电路数据集

2025年12月16日 30 193 11

数据集概述该数据集围绕无纳米光刻技术制备的超大规模MoS2晶体管与电路展开，包含说明文档和图片压缩包两类文件，为研究相关器件与电路的制备及性能提供数据支持。文件详解 Readme.pdf：PDF格式文档，可能包含数据集的背景介绍、文件说明、使用方法等内容。...

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全球先进逻辑芯片供应链全景数据集2025

2025年10月24日 29 134 38

数据集概述...

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集成电路预处理数据集ICsPreprocessedDataDataset-antriksharya

2025年5月30日 30 93 31

集成电路预处理数据集ICsPreprocessedDataDataset-antriksharya 数据来源：互联网公开数据标签：集成电路，数据预处理，数据集，电子工程，机器学习，半导体，工业数据，数据分析数据概述：该数据集包含经过预处理的集成电路相关数据，记录了集成电路生产过程中的关键参数和特征。主要特征如下：...

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半导体制造缺陷检测数据集DACONSemiconductorDefectDetectionDataset-moonsoengil

2025年5月29日 30 102 56

半导体制造缺陷检测数据集DACONSemiconductorDefectDetectionDataset-moonsoengil 数据来源：互联网公开数据标签：半导体，缺陷检测，数据集，计算机视觉，图像识别，深度学习，工业制造，质量控制数据概述：该数据集由 Dacon 平台提供，旨在用于半导体制造过程中的缺陷检测任务。主要特征如下：...

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数据2022-2023年中国半导体行业数据集-huynhtruc109

2025年5月29日 30 41 26

2022-2023年中国半导体行业数据集-huynhtruc109 数据来源：互联网公开数据标签：半导体，行业分析，数据集，市场研究，经济，芯片，供应链，技术数据概述：该数据集包含了2022年至2023年期间中国半导体行业的相关数据，记录了行业内的关键指标和发展趋势。主要特征如下：时间跨度：数据记录的时间范围为2022年至2023年。...

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半导体晶圆缺陷预测数据集SemiconductorWaferDefectPrediction-gilcamelot

2025年5月17日 30 178 122

半导体晶圆缺陷预测数据集SemiconductorWaferDefectPrediction-gilcamelot 数据来源：互联网公开数据标签：半导体, 晶圆, 缺陷检测, 机器学习, 预测模型, 质量控制, 数据分析, 制造业数据概述：该数据集包含来自半导体制造过程的晶圆缺陷检测数据，用于构建预测模型，以识别和预测晶圆的缺陷。主要特征如下：...

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半导体少数载流子寿命测试数据SemiconductorMinorityCarrierLifetimeTestData-ejaywu

2025年5月1日 30 104 22

半导体少数载流子寿命测试数据SemiconductorMinorityCarrierLifetimeTestData-ejaywu 数据来源：互联网公开数据标签：半导体, 载流子寿命, 材料科学, 电学特性, 实验数据, 数据分析, 电子工程, 物理测量数据概述：...

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泊松分布模拟数据-半导体器件特性数据集PoissonDistributionSimulationData-SemiconductorDeviceChara...

2025年4月29日 30 30 2

泊松分布模拟数据-半导体器件特性数据集PoissonDistributionSimulationData-SemiconductorDeviceCharacteristics-saankhya1997 数据来源：互联网公开数据标签：泊松分布, 半导体, 器件特性, 模拟数据, 物理建模, 数据分析, 科学研究, 实验数据数据概述：...

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半导体器件仿真数据电压与电势关系数据集SemiconductorDeviceSimulationDataVoltageandPotentialDatase...

2025年4月29日 30 188 26

半导体器件仿真数据电压与电势关系数据集SemiconductorDeviceSimulationDataVoltageandPotentialDataset-saankhya1997 数据来源：互联网公开数据标签：半导体, 仿真数据, 电压, 电势, 物理建模, 数据分析, 机器学习, 科学研究数据概述：...

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半导体晶圆图像缺陷分类数据集SemiconductorWaferImageDefectClassificationDataset-shaurya21jain

2025年4月29日 30 18 15

半导体晶圆图像缺陷分类数据集SemiconductorWaferImageDefectClassificationDataset-shaurya21jain 数据来源：互联网公开数据标签：晶圆缺陷, 图像分类, 半导体, 质量控制, 机器学习, 深度学习, 计算机视觉, 工业制造数据概述：...

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英特尔最终产品销售数据集IntelFinalProductSalesDataset-vasiliispe

2025年4月26日 30 18 6

英特尔最终产品销售数据集IntelFinalProductSalesDataset-vasiliispe 数据来源：互联网公开数据标签：英特尔，销售数据，半导体，市场分析，数据集，财务分析，机器学习，商业智能数据概述：该数据集包含英特尔公司最终产品的销售数据，用于分析其产品在市场上的表现。主要特征如下：...

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晶圆制造缺陷检测数据集WaferDefectDetectionDataset-manavpatel571

2025年4月26日 30 121 107

晶圆制造缺陷检测数据集WaferDefectDetectionDataset-manavpatel571 数据来源：互联网公开数据标签：半导体，制造业，数据集，缺陷检测，机器学习，质量控制，工业自动化，图像识别数据概述：该数据集包含来自晶圆制造过程中的缺陷检测数据，记录了半导体晶圆生产中常见的缺陷类型和分布。主要特征如下：...

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芯片制造与性能数据集ChipManufacturingandPerformanceDataset-elshabrawiii

2025年4月25日 30 100 44

芯片制造与性能数据集ChipManufacturingandPerformanceDataset-elshabrawiii 数据来源：互联网公开数据标签：芯片制造，性能测试，数据集，半导体，机器学习，工业分析，技术评估，质量控制数据概述：...

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半导体晶圆缺陷检测数据集WaferFaultDetectionDataset-subhanshubabbar

2025年4月24日 30 65 30

半导体晶圆缺陷检测数据集WaferFaultDetectionDataset-subhanshubabbar 数据来源：互联网公开数据标签：半导体，晶圆，缺陷检测，数据集，机器学习，图像处理，工业自动化，质量控制数据概述：该数据集包含来自半导体制造厂的晶圆缺陷检测数据，记录了晶圆表面的缺陷信息。主要特征如下：...